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高低温低气压试验箱广泛用于国防工业，航天工业自动化零组件，汽车部件，电子、电器零组件，塑料、化工业，食品业，制药工业及相关产品在高低温低气压单项或同时作用下，模拟高海拔、高空、（高原地区）气候进行贮存运用、运输可靠性试验，并可同时对试件通电进行电气性能参数的测试。高低温低气压试验箱对于散热试验样品的试验，其散热功率不能超过试验箱制冷量，因制冷量为动态值，其随温度点变化而有所变化。
详情介绍：
一、高低温低气压试验箱用途：
本试验箱适用于对产品（整机）、零部件、材料进行高温、低温，高度（不高于海拔30000米或45000米）以及高低温循环试验和温度－高度综合试验，高、低温试验时本试验箱可用于散热试验样品和非散热试验样品的试验。对于散热试验样品的试验，其散热功率不能超过试验箱制冷量，因制冷量为动态值，其随温度点变化而有所变化。高低温低气压试验箱，国防工业，航天工业自动化零组件，汽车部件，电子、电器零组件，塑料、化工业，食品业，制药工业及相关产品在高低温低气压单项或同时作用下，模拟高海拔、高空、（高原地区）气候进行贮存运用、运输可靠性试验，并可同时对试件通电进行电气性能参数的测试。
二、高低温低气压试验箱执行标准：
GB/T 10592-2008高低温试验箱技术条件
GB/T 10586-2006湿热试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温
GB/T 2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温
GB/T 2423.3-2006电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验
GB/T 2423.4-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Db：交变湿热（12h+12h循环）
GB/T 2423.22-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化
GB/T 5170.1-2008电工电子产品环境试验设备检验方法总则
GJB 150.2A-2009**装备实验室环境试验方法第2部分：低气压（高度）试验
GJB 150.3A-2009**装备实验室环境试验方法第3部分：高温试验
GJB 150.4A-2009**装备实验室环境试验方法第4部分：低温试验
GJB 150.6-1986**装备实验室环境试验方法温度-高度试验
GJB 150.19-1986温度-湿度-高度试验
GJB 150.24A-2009**装备实验室环境试验方法第24部分：温度-湿度-振动-高度试验
GB/T 2423.27-2005电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Z/AMD低温/低气压/湿热连续综合试验
三、高低温低气压试验箱技术参数：
工作室尺寸：600*600*700
温度范围-70～＋150℃
温度波动度±0.5℃（常压空载）
温度均匀度≤2℃（常压空载）
温度偏差±2℃（常压空载）
升温时间（20～＋150℃）≤60min
降温时间（20～-60℃）≤80min
气压范围常压～1KPa常压～0.5KPa
压力精度±2KPa（常压～40KPa时）；±5％（40KPa～4KPa时）；±0.1KPa（4KPa～1KPa时）
降压速率≤45min（常压→1KPa）
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